日本混合激光lasertec共聚焦顯微鏡

日本混合激光lasertec共聚焦顯微鏡多功能高性能OPTELICS HYBRID+激光顯微鏡全面升級，追求真正實(shí)用性，能夠應對多樣化測量場(chǎng)景。

▆ 共聚焦顯微鏡原理：
樣品表面的反射光通過(guò)遮光板上的細孔到達檢測器。點(diǎn)光源的照射光到達樣品并聚焦時(shí)，其反射光也正好在細孔處聚焦，因此稱(chēng)為“共聚焦光學(xué)系統“。樣品表面的聚焦部位，其反射光經(jīng)細孔到達檢測器進(jìn)行檢測；未聚焦的反射光大部分被遮光板擋住，無(wú)法被檢出。這種僅聚焦部位的反射光被檢出的共聚焦光學(xué)系統，為HYBRID+激光顯微鏡所采用。

OLED行業(yè)、晶振應用、SAW濾波器、半導體激光、太陽(yáng)能電池、液晶面板、透明晶圓檢查等。

日本混合激光lasertec共聚焦顯微鏡特點(diǎn)：

▆ 提供6項職能以滿(mǎn)足各種需要：

1.白光共焦：白光共焦顯微鏡是利用共焦光學(xué)和白光的顯微鏡。HYBRID+ 可作為白光共焦顯微鏡進(jìn)行全色高清晰度觀(guān)測和高分辨率三維輪廓測量。

2.激光共焦：HYBRID+利用共焦光學(xué)和激光光源作為激光共焦顯微鏡。它使高放大率、高分辨率的觀(guān)測和測量與掃描電子顯微鏡的性能相當。

3.差動(dòng)干涉對比：共焦光學(xué)與差動(dòng)干涉對比相結合，使得超細地形的高對比度實(shí)時(shí)可視化。

4.垂直掃描白光干涉測量：該功能利用干涉測量技術(shù)對地形進(jìn)行納米尺度測量,并對晶圓片和薄膜進(jìn)行廣域波動(dòng)測量。它使用雙波束干涉物鏡，以便能夠在一毫米規模的大面積上對納米尺度的地形進(jìn)行高精度的剖面測量。

5.相移干涉測量：這個(gè)功能使用干涉測量來(lái)進(jìn)行角度尺度地形測量。

6.光譜反射計薄膜厚度測量：這個(gè)功能使用反射計來(lái)測量厚度小于1微米的透明薄膜的厚度。

▆ 滿(mǎn)足行業(yè)領(lǐng)現的規格并實(shí)現高精度：

HYBRID+ 實(shí)現行業(yè)領(lǐng)現的性能激光顯微鏡的各種觀(guān)測和測量應用。

1.高速測量：HYBRID+實(shí)現行業(yè)領(lǐng)現的高速幀速率(15赫茲)，在圖像拼接、自動(dòng)測量、自動(dòng)缺陷檢測和高速移動(dòng)圖像觀(guān)測方面帶來(lái)卓月的性能。

2.高精度測量：HYBRID+達到行業(yè)領(lǐng)現的測量精度和重復性。

▆ 提供各種測量、分析和支持功能,以提高可用性

LM眼,混合測試分析軟件 +,提供各種功能,協(xié)助你順利運作。

▆ 自動(dòng)操作以提高效率：

拉塞特克提供了很好的解決方案,以滿(mǎn)足您的測量需求,無(wú)論它是否需要一個(gè)標準的工具或定制您的生產(chǎn)過(guò)程。

如果您有需要，可以打電話(huà)咨詢(xún)我們，價(jià)格以實(shí)際為準，歡迎您的來(lái)電?。?！

我們是日本大為在中國的兄弟公司，目前國內半導體設備的廠(chǎng)商都是我們的客戶(hù)。

我們的產(chǎn)品包括反應器/半導體設備/氣柜/化學(xué)品柜制造中的部件、焊接設備、切割設備、耗材、檢測設備、流體元件、五金配件等。

上海利布迪公司經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品和品牌包含但不限于：

流體元件：

日本富士金FUJIKIN，美國Aptech，韓國Unilok，以色列哈姆雷特HAMLET，美國Presair壓力開(kāi)關(guān)，以及潔凈系列不銹鋼管道等。

壓力溫度：

美國PalmerWahl 圓盤(pán)壓力溫度記錄儀及溫度計系列產(chǎn)品, 日本岡崎OKAZAKI超低溫溫度計等。

工業(yè)材料：

日本預磨鎢針，專(zhuān)業(yè)供應用于美國世偉洛克Swagelok，美國AMI，德國歐比泰姆Orbitalum，美國眼鏡蛇M(jìn)K等自動(dòng)焊機；V+V不銹鋼材料，銅合金材料，半導體耗材等。

制造與檢測：

半導體設備及配件，進(jìn)口自動(dòng)焊機，日本ACCESS PFA焊接機，無(wú)毛刺切割機，日本Lasertec激光顯微鏡，美國SIGHTPIPE管焊縫光學(xué)檢查內窺鏡，美國鷹眼HAWKEYE內窺鏡，日本奧林巴斯內窺鏡，日本VCR限流墊片/孔板，英?？礗NFICON氦檢儀等。